晶圆上下料过程中的非接触位移与速度测量白皮书

威谱测 VIPICO · 半导体应用白皮书 · 采集日期:2026年11月2日

北京威谱测光电科技有限公司(威谱测 VIPICO)使用激光测振仪记录晶圆上下料过程中表面测点的运动,并在后处理中查看沿激光测量方向的相对位移和速度。P1、P2 两份记录均以 8 kHz 采样,各自从零时刻计时。曲线可以帮助设备调试人员复查运动、停留和方向变化。

下载晶圆上下料应用白皮书 PDF(6 页)

测量与后处理

  1. 记录测点位置、光束方向、运动路径和采集工况,检查遮挡、支架稳定性及有效回光。
  2. 执行上下料动作,分别记录测点、采样率和采集时长。
  3. 按每份记录的时间轴查看位移与速度,在全程曲线中选取局部窗口,保留窗口与处理参数。

P1 与 P2 的记录结果

2026 年 11 月 2 日晶圆上下料测试记录
指标 P1 P2
采样率 8 kHz 8 kHz
记录时长 46.656 s 44.448 s
局部分析窗口 40–45 s 22–26 s
窗口内相对位移范围 −46.8 至 +291.3 mm −53.2 至 +139.1 mm
窗口内速度极值 −652.0 / +674.3 mm/s −670.4 / +713.2 mm/s
全程位移跨度 671.7 mm 405.6 mm

速度极值取自平滑后的曲线。全程位移跨度与局部位移范围采用不同统计区间。四幅全程及局部曲线见 PDF,数据来自案例测试汇报第 2 至 6 页。

如何把结果用于设备调试

在同一测点、相同动作程序和一致处理参数下重复采集,可比较各周期的位移幅度、速度峰值、动作时长和停留阶段。评估稳定时间前应定义目标区间和允许偏差。比较两点瞬时运动前,应建立统一触发或可靠的时间对齐,并记录空间坐标与测量方向。

常见问题

P1 与 P2 可以直接逐点相减吗?

应先核对时间同步、动作对应关系和测量方向。本案例的 P1、P2 使用各自的时间原点。

设备视频可以和曲线逐帧对应吗?

现场视频用于说明设备动作。建立逐帧对应需要视频时钟与采集时钟之间的映射,复测时可一并记录。

这份资料能用于比较仪器型号或精度吗?

该报告记录本次工况下的运动数据,未列仪器具体配置和完整处理参数。选型时可结合目标频段、运动行程、测点可见性和试样布置开展验证。

延伸阅读:单点激光多普勒测振仪的产品与配置 · 技术白皮书下载

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